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Modeling MEMS and NEMS / John A. Pelesko and David H. Bernstein.

por Pelesko, John A | Bernstein, David H.

Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Detalles de publicación: Boca Raton, FL : Chapman & Hall/CRC, 2003Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: 1 Signatura topográfica: 621.3 P 358.

Reliability of MEMS / edited by Osamu Tabata and Toshiyuki Tsuchiya.

por Tsuchiya, Toshiyuki | Tabata, Osamu, 1956-.

Series Advanced micro & nanosystems ; v.6Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Detalles de publicación: Weinheim : Wiley-VCH, c2008Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: 1 Signatura topográfica: 621.3 0 74.

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